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Microscopio de Fuerza Atómica. Nanosurf Flex

La Microscopía por Fuerza Atómica (AFM) es una técnica que permite medir de manera superficial una muestra, su principio se basa en la interacción de los átomos de la punta contra los àtomos de la zona a relevar. Las técnicas AFM poseen capacidad de resolución nanométrica y una de las principales ventajas respecto a otras técnicas de microscopía es que no requiere una preparación especial de la muestra.

El equipo tiene varios modos de trabajo, en nuestro laboratorio contamos con las siguientes posibilidades:

  1. Topografía en modo contacto (medidas de rugosidad superficial, altura de capas, escalones, terrazas o la forma o distribución de objetos en la superficie)
  2. Topografía en modo tapping con la correspondiente imagen de fase (medidas del contraste composicional de diferentes materiales)
  3. Topografia en modo magnético permite mensurar las variaciones de fuerza magnética sobre la superficie de una muestra.